отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система)

отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система): Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями. [ГОСТ 21006-75, статья 25]

Источник: ГОСТ Р 8.631-2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки оригинал документа

отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система): Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями. [ГОСТ 21006-75, статья 25]

Источник: ГОСТ Р 8.636-2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки оригинал документа

отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система): Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями.

[ГОСТ 21006-75, статья 25]

Источник: ГОСТ 8.594-2009: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки оригинал документа